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一、產(chǎn)品介紹

BIPV-3624系列BIPV太陽(yáng)能組件IV測(cè)試儀是用于BIPV組件電性能測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備。其測(cè)試幅面達(dá)2.4*3.6米，滿(mǎn)足IEC60904-9標(biāo)準(zhǔn)

1、采用AAA級(jí)光源配置：不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均優(yōu)于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

2、全光譜：光譜范圍滿(mǎn)足300-1200nm范圍，滿(mǎn)足各種類(lèi)型電池的光譜測(cè)試。

3、太陽(yáng)電池組件采用四線(xiàn)連接，以及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保了太陽(yáng)電池電流測(cè)量的準(zhǔn)確性。紅外無(wú)接觸式測(cè)溫，準(zhǔn)確測(cè)出組件溫度，確保了溫度修正的準(zhǔn)確性。設(shè)備可增加自動(dòng)導(dǎo)軌用于流水線(xiàn)，滿(mǎn)足各類(lèi)產(chǎn)線(xiàn)配線(xiàn)要求。

測(cè)試對(duì)象：適用于晶體硅太陽(yáng)能電池組件（PERC、N型、IBC以及HIT等）、薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。

二、性能特點(diǎn)

◆ AAA標(biāo)準(zhǔn)：滿(mǎn)足IEC60904-9標(biāo)準(zhǔn)

◆ 300-1200nm光譜：滿(mǎn)足各類(lèi)電池測(cè)試要求

◆ 電子負(fù)載：掃描方向支持Isc-→Voc和Voc→Isc兩種模式

◆ 測(cè)量對(duì)象：PERC、 N型、HIT、IBC、TOPCon、 CIGS、 普通晶硅等技術(shù)組件

◆ 可測(cè)量參數(shù)：I-V 曲線(xiàn)，短路電流，開(kāi)路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，定電壓點(diǎn)電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻

三、技術(shù)指標(biāo)